第三方分析检测 X射线衍射仪的原理
特征X射线及其衍射X射线为一种波长（0.06-20纳米）非常短的电磁波，可以将一定厚度的物质穿透，并且可以让体电离、照相机乳胶感光以及荧光物质发光。使用高能电子束对金属靶加以轰击使X射线产生，其具有靶中元素相对应的特定波长，叫做特征X射线。例如0.154056纳米为铜靶对应的X射线波长。
X射线衍射仪的英文名称为X-ray Powder diffractometer，XPD或XRD为其简写。有时会将其称为x射线多晶体衍射仪，英文名称为X-ray polycrystalline diffractometer，XPD或XRD依然是它的简写。
原理
与晶体内部原子面之间的间距相比较，x射线的波长比较接近，晶体能够作为X射线的空间衍射光栅，也就是一束X射线往物体上照射时，受到物体中原子的散射，每个原子均有散射波产生，这些波相互干涉，结果就使得衍射产生。在某些方向上加强射线的强度，在其他方向上减弱就是在其他方向上减弱。对衍射结果进行分析，就能够使晶体结构获得。上述为德国物理学家劳厄(M.von Laue)在1912年提出的一个重要科学预见，随即被实验所证实。基于劳厄的发现，英国物理学家布拉格父子在1913年不但将NaCl，KCl等晶体结构成功的测定了，而且将布拉格方程：2dsinθ=nλ这一作为晶体衍射基础的著 名公式提了出来。
对于非晶体材料来说，因为其结构晶体结构中原子排列的长程有序不存在，仅仅是在几个原子范围内有短程有序存在着，所以一些漫散射馒头峰是非晶体材料的XRD图谱。
对于晶体材料而言，如果待测晶体和入射束呈现的角度有所不同，那么就会检测出那些满足布拉格衍射的晶面。就是具有不同的衍射强度的衍射峰体现在XRD图谱上。
X射线衍射仪是利用衍射原理对物质的晶体结构，织构及应力进行非常精 确的测定，精 确地进行定量分析，定性分析以及物相分析。在冶金，石油，化工，科研，航空航天，教学，材料生产等领域
